KAI-N
Kurztest zur Messung des Arbeitsgedächtnisses
| Autor | |
| Quelle | Sonstige Datenquellen |
| ISBN | 978-3-88562-091-4 |
| Lieferbarkeit | nicht lieferbar |
| Katalogisat | Basiskatalogisat |
| Verlag | VLESS |
| Erscheinungsdatum | 01.12.2001 |
Beschreibung (Langtext)
KAI-N basiert auf dem Kurztest für Allgemeine Intelligenz (KAI), getrennte Betrachtung von Merkspanne und Arbeitsgeschwindigkeit (getrennte Normierung), damit können beide Komponenten des Arbeitsgedächtnisses auch isoliert gemessen und bewertet werden